纳米级低开销SEU免疫型XC Domino动态门

作者： 张金艺 [1,2,3] ; 唐夏 [1] ; 周荣俊 [1] ; 李娟娟 [2] ; 张秉煜 [2]

摘要：在纳米级工艺条件下，高速运算单元核心部件XC Domino动态门面临严重的软错误问题．本文提出一种适用SEU类软错误容错设计的免疫型XC Domino动态门，此免疫型动态门借鉴了锁存器单元稳定结构，对于动态门的输出端实施P—type扩散区隔离以完成SEU的防护．通过Spectre电路仿真，验证了SEU免疫型动态门能够实现对于高达2倍Vdd振幅电压脉冲干扰的SEU类软错误容错；另外，与传统XC Domino动态门容错设计方案相比，免疫型动态门能够降低13．64％的门延时，并能在减少47．37％面积开销的同时降低75．54％功耗开销．

关键字： 单粒子翻转 交叉耦合多米诺动态门 容错设计 软错误 低开销

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