嵌入式存储器修复技术研究

作者： 杨斌 ; 王小力 ; 李栋

摘要： 为了克服嵌入式存储器故障对整个SOC系统的影响,采用基于存储冗余单元的嵌入式存储器软修复技术.针对软修复技术修复符号信息易丢失的缺点,使用e-fuse box保存修复信息的硬修复技术.通过比较separated fuse-box与centralized fuse-box电路结构的优缺点,提出了含有reg_bank模块的centralized fuse-box电路结构,从而节省了芯片的面积,提高了解压缩修复的速度.实验证明,该fuse-box结构所占芯片面积相对separated fuse-box结构所占的芯片面积节省47.88%.而该fuse-box结构相对传统centralized fuse-box结构,其修复信息的解压缩修复时间减少为centralized fuse-box结构解压缩修复时间的26.91%.研究得出的结论已经在实际产品中获得验证,可广泛应用于SOC设计.

关键字： 内自建测试 内自建软修复 内自建硬修复 e-fuse BOX

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