基于IEEE 1500标准的嵌入式ROM及SRAM内建自测试设计

作者： 谈恩民 ; 金锋

摘要：嵌入式存储器在SOC中所占的面积比越来越大,同时也对嵌入式存储器测试技术提出了新的挑战.IEEE1500标准为IP核设计商与集成商制订了标准的测试接口.基于此标准,本文完成了针对嵌入式存储器的测试外壳与具有兼容性的控制器的设计,以SRAM和ROM为测试对象进行验证,测试结果表明,该系统能准确地检测存储器存在的故障.

关键字： 嵌入式存储器 IEEE 1500标准 测试外壳 SRAM和ROM

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